? 在EMC對比試驗(yàn)中，樣品的選擇是非常關(guān)鍵的一個(gè)環(huán)節(jié)，應(yīng)確保比對出現(xiàn)的不滿意結(jié)果不被歸咎于樣品的變異性。比對樣品選擇不合適，會(huì)導(dǎo)致難以對最終數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì);或者結(jié)果不能反映參加比對實(shí)驗(yàn)的所有檢測能力。穩(wěn)定的被測設(shè)備，能減少測試結(jié)果的不確定性，排除導(dǎo)致測試差異的不穩(wěn)定因素并縮小測試差異的考察范圍，簡化測試差異的分析過程。

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? ? ? 一個(gè)合適的比對樣品，至少滿足以下規(guī)則：對比試驗(yàn)選擇被測樣品最重要的一點(diǎn)就是被測樣品在測試過程中其運(yùn)行的穩(wěn)定性。這種穩(wěn)定性不是指樣品性能的穩(wěn)定性，而是從電磁騷擾的角度來考察，其發(fā)射的檢測信號必須是穩(wěn)定的。被測樣品的穩(wěn)定性可以在不同時(shí)間與不同地點(diǎn)進(jìn)行測試的情況下，對測試結(jié)果的相對一致性提供直接保證。被測樣品的穩(wěn)定性應(yīng)該在多次檢測結(jié)果中體現(xiàn)。為了保證在EMI 測試實(shí)驗(yàn)室測試EMI 結(jié)果的一致性和可重復(fù)性，梳狀信號發(fā)生器是快速EMI 場地校準(zhǔn)的參考輻射源。它能用來發(fā)現(xiàn)潛在的由于測試設(shè)備故障或者改變設(shè)置引起的測量誤差。在EMC 標(biāo)準(zhǔn)測試場地使用梳狀信號發(fā)生器可以快速地完成實(shí)驗(yàn)室校驗(yàn)并找出潛在的問題。來自兩個(gè)不同EMC 測試中心的數(shù)據(jù)有時(shí)候會(huì)有比較大的差異，如何找出造成這種測試差異的原因比較困難。這時(shí)候?qū)⑹釥钚盘柊l(fā)生器作為信號源代替EUT 放置在相同的位置，測試中心采用與之前測試EUT 相同的設(shè)置，通過對比測試結(jié)果可以快速查出測試差異的的大小，并在系統(tǒng)中進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償以保障2個(gè)不同屏蔽室之間的差異達(dá)到最小。

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?????? 免責(zé)聲明:本文系網(wǎng)絡(luò)轉(zhuǎn)載，版權(quán)歸原作者所有。如本文所用視頻、圖片、文字如涉及作品版權(quán)問題，請?jiān)谖哪┝粞愿嬷覀儗⒃诘谝粫r(shí)間處理!本文內(nèi)容為原作者觀點(diǎn)！不代表常創(chuàng)科技的立場！如有疑問，請聯(lián)系刪除：[email protected]

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